天線近場球面掃描面形測量技術(shù)及相關(guān)問題研究

摘要： 本文提出了一種通過掃描天線近場半球表面電場強度來獲取天線面形分布的新方法,該方法無需測量相位、掃描面積小、可實現(xiàn)全姿態(tài)測量.研究將微分幾何理論與幾何光學(xué)方法相結(jié)合,推導(dǎo)出了球面近場幅值分布與表面變形間直接映射關(guān)系的解析形式-幅值變形方程,并基于有限差分法和傅里葉變換法對方程進行求解,使用幾何光學(xué)數(shù)值仿真證明了幅值變形方程的準(zhǔn)確性和測量方法的有效性.結(jié)合本文提出的掃描機構(gòu)設(shè)計從掃... （共15頁）