摘要： 針對長期貯存狀態(tài)下導(dǎo)彈用電連接器的密封可靠性評估問題，通過對電連接器用聚氨酯膠密封件在貯存環(huán)境下的失效分析，確定了聚氨酯膠密封失效為內(nèi)聚失效和邊界失效共同引起的密封泄漏，揭示了聚氨酯膠在貯存環(huán)境下性能退化機制為環(huán)境溫度和濕度引起聚氨酯膠內(nèi)部的大分子基團氧化和水解；基于牛頓黏性定律和Roth密封理論，建立了結(jié)合內(nèi)聚失效和邊界破壞的氣體泄漏數(shù)學(xué)表達式；基于分子動力學(xué)和質(zhì)量作用定律，... （共11頁）