摘要： 由于高能激光系統(tǒng)中光學(xué)元件對于系統(tǒng)探測距離、毀傷能力以及能量損耗程度等參數(shù)都可以通過測量透過率來評估，采用共光路復(fù)合位移同步掃描技術(shù)，通過逐點(diǎn)掃描的方式實(shí)現(xiàn)對大口徑元件透過率的測量。通過掃描圓周和徑向的復(fù)合位移，控制上下機(jī)械掃描結(jié)構(gòu)，結(jié)合振鏡對光路的校準(zhǔn)，從而實(shí)現(xiàn)全口徑快速掃描。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，所提方法測得光學(xué)元件透過率的測量精度為0.2%，測量口徑最大600 mm，測量速度大于... （共8頁）