摘要： 現(xiàn)場可編程門陣列(Field Programmable Gate Arrays, FPGA)原型驗證是芯片設(shè)計中的重要環(huán)節(jié)，其應(yīng)用能夠顯著提升芯片整體驗證速度并揭示其他驗證方法難以發(fā)現(xiàn)的系統(tǒng)設(shè)計缺陷。對于FPGA原型驗證系統(tǒng)的調(diào)試，主流的工具為集成邏輯分析儀，但其存在如下問題：消耗大量塊隨機存取存儲器資源、調(diào)試深度較低、基本觸發(fā)方式少。針對這些問題，提出了一種深度調(diào)試系統(tǒng)。與X... （共6頁）