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基于數(shù)據(jù)驅(qū)動的功率MOSFET可靠性預測綜述

微電子學 頁數(shù): 9 2024-08-20
摘要: 隨著大數(shù)據(jù)和計算技術(shù)的發(fā)展,數(shù)據(jù)驅(qū)動的可靠性預測方法在電子和電力系統(tǒng)領域正被越來越廣泛地應用。對國內(nèi)外功率場效應晶體管(MOSFET)數(shù)據(jù)驅(qū)動的可靠性預測方法進行介紹和分析,揭示該方法從經(jīng)典統(tǒng)計方法到先進機器學習方法的演變過程,對于統(tǒng)計學方法,介紹了高斯過程回歸、自回歸積分移動平均模型等經(jīng)典統(tǒng)計學方法,以及不斷優(yōu)化和擴展模型以進行改進的統(tǒng)計學方法;對于機器學習方法,集中探討了如... (共9頁)

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