摘要： 鐵電薄膜在高密度存儲器等微型功能器件具有巨大的應(yīng)用前景，在外場下研究鐵電薄膜極化翻轉(zhuǎn)機制具有重要意義。本文用原位透射電鏡技術(shù)對BFO薄膜電容器的鐵電極化翻轉(zhuǎn)動態(tài)行為及界面因素進(jìn)行了研究。原位結(jié)果觀察到“面內(nèi)層狀”與典型“成核生長”兩種鐵電極化翻轉(zhuǎn)模式；HAADF高分辨與高斯擬合分析結(jié)果表明界面幾何構(gòu)型的影響作用，界面幾何曲率的不同導(dǎo)致局部電荷密度不同，并進(jìn)一步影響局部內(nèi)建電場和... （共8頁）