基于LabVIEW的溫度測試系統(tǒng)
電子器件
頁數(shù)： 4 2013-04-20
摘要： 針對溫度測量的高精度、高可靠性的需要,設(shè)計了一種基于LabVIEW的溫度測試系統(tǒng)。設(shè)計中針對NI7831FPGA采集卡構(gòu)建了的LabVIEW RIO平臺,其繼承了傳統(tǒng)的LabVIEW圖形化編程的特點又賦予FPGA的適時高速的特性。測試結(jié)果表明,本系統(tǒng)能夠達(dá)到多通道測溫的高精度要求,并具有很好的可靠性。 （共4頁）
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